Electron tomography / 3D and 4D characterization
電子線トモグラフィーによる結晶性材料の三次元ナノ構造解析
TEM・STEM像は通常、薄膜試料を透過した二次元投影像として得られます。しかし、転位、界面、析出物、粒界などのナノ構造は本質的に三次元的であり、二次元像だけでは重なりや奥行き方向の情報を正しく読み解けない場合があります。当研究室では、電子線トモグラフィー、回折コントラスト、深層学習、電子顕微鏡内その場観察を組み合わせ、結晶性材料の静的・動的な三次元構造解析に取り組んでいます。
研究のポイント
転位・界面を三次元で可視化
鉄鋼材料や非鉄金属材料中の格子欠陥を、投影像ではなく立体構造として捉えます。
その場観察との融合
加熱・変形中の組織変化を連続的に観察し、時間軸を含む4D解析へ展開しています。
解析手法そのものを開発
高傾斜ホルダー、回折コントラストトモグラフィー、圧縮センシング、深層学習などを活用し、観察限界の拡張を目指します。
関連論文・関連情報
本テーマに関連する主な論文・関連情報を以下に示します。